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FB760-6型 FB760 F型型 FB760 F型 雙棱鏡干涉實(shí)驗儀

產(chǎn)品名稱(chēng):FB760-6型 FB760 F型型 FB760 F型 雙棱鏡干涉實(shí)驗儀

產(chǎn)品詳情

18世紀法國科學(xué)家菲涅耳(Fresnel)用雙棱鏡將一束相干光的波前分成兩部分形成分波面干涉,利用測量干涉條紋間距(毫米量級),求得光的波長(cháng)(納米量級)。目前很多物理實(shí)驗教科書(shū)都將該方法帶入課堂,測量激光之波長(cháng)。本雙梭鏡光干涉實(shí)驗儀具有這方面的功能。
本儀器有以下優(yōu)點(diǎn)
☆配有半導體激光(650.0nm)單色光源,半導體激光經(jīng)偏振片處理可以將光強降低到適當的強度,有既具相干性又不傷害眼睛的優(yōu)點(diǎn),可很方便調出圖像清晰干涉條紋。
☆導軟和轉盤(pán)采用高強度優(yōu)質(zhì)鋁合余材料、不會(huì )生銹、經(jīng)久耐用。
本儀器可完成以下實(shí)驗
☆觀(guān)察雙棱鏡的干涉現象
☆測量激光器的波長(cháng)。
☆也可以換其他光源進(jìn)行雙棱鏡干涉實(shí)驗。
儀器主要配置
☆導軌(長(cháng)100.0cm,分度值1mm,可為用戶(hù)特制尺寸)、配有左右橫向平移支架(最大移程40mm)、測微目鏡(或高清CCD)
☆FB760/F型采用高清CCD攝像液晶屏顯示替代傳統的測微目鏡。

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